老化房的功能相信很多用戶都知道的，那么大家知道電子產(chǎn)品為什么要做老化試驗?這個試驗對產(chǎn)品有什么幫助?

通常電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時，因設(shè)計不合理、原材料或工藝措施方面原因引起產(chǎn)品質(zhì)量問題有兩種：一種是產(chǎn)品性能參數(shù)不達(dá)標(biāo)以及產(chǎn)品不符合使用要求; 另一種是潛缺陷，它是一般測試手段很難發(fā)現(xiàn)，而是使用一段時間后會逐漸的暴露出來，如：硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。一般這類缺陷需要元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運行一千個小時左右才會全部暴露。顯然對每只元器件測試一千個小時是不現(xiàn)實是，需要對其施加熱應(yīng)力和偏壓，就得使用老化房來進行高溫功率應(yīng)力試驗，來加速這類缺陷提早暴露。

老化房主要就是給電子產(chǎn)品施加溫度和多種綜合外部應(yīng)力，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡可能把產(chǎn)品早期失效問題消滅在正常使用之前。這項試驗可以提高電子產(chǎn)品的可靠度和延長產(chǎn)品使用壽命，對穩(wěn)定性進行必要考核剔除那些有“早逝”缺陷潛元器件。